Capacitan a Aplicadores de Examen de la Beca “Los Mejores Mil”

https://drive.google.com/uc?export=view&id=1uJgpUC_pyZ6e7hJDl6WUrir2OuIk77yx

 

• Florentino Domínguez resaltó la importancia de fortalecer las habilidades de los encargados de aplicar las pruebas EXANI II Y EXANI III.

 

El Secretario de Educación Pública del Estado y Director General de la Unidad de Servicios Educativos de Tlaxcala, Florentino Domínguez Ordóñez, supervisó la capacitación que reciben las figuras educativas que este sábado 9 de noviembre fungirán como aplicadores del examen que presentarán estudiantes para obtener la beca “Los Mejores Mil” que diseñó el Centro Nacional de Evaluación para la Educación Superior (Ceneval).

 

En el auditorio de la Escuela Normal Urbana “Emilio Sánchez Piedras”, una de las sedes de la capacitación presencial, Florentino Domínguez Ordóñez resaltó la importancia de fortalecer los conocimientos de los aplicadores del examen que realizarán más de nueve mil universitarios inscritos en la convocatoria.

 

“Ustedes van a realizar una tarea importante dentro del proceso de selección de los mil jóvenes que obtengan los mejores resultados en la prueba y que serán beneficiarios del Sistema Estatal de Becas”, apuntó. 

 

Florentino Domínguez reconoció el trabajo del Ceneval al capacitar a figuras educativas que estarán en las nueve sedes dispuestas para la aplicación del examen, y con ello garantizar un proceso transparente. 

 

Los aplicadores guiarán a los universitarios a los espacios indicados para que se acrediten y se instalen en los lugares asignados.

 

Las capacitaciones se realizaron en el Colegio de Bachilleres de Tlaxcala, planteles 10 de Apizaco y 11 de Panotla; en la Escuela Secundaria General “Presidente Juárez” de Tlaxcala; y en la Escuela Normal Urbana “Emilio Sánchez Piedras”.

 

Los aspirantes a la beca “Los Mejores Mil” deberán presentar su comprobante de registro, el cual indica la sede del examen y el horario en que se aplicará, así como una identificación oficial vigente con fotografía.

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